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北京冠測精電儀器設備有限公司
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低溫介電溫譜測試系統

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:
  • 品牌:
  • 產品類別:其他
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-03-28 10:31:08
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北京冠測精電儀器設備有限公司

其他

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產品簡介

低溫介電溫譜測試系統它是在特殊環境下,測量介質在該環境溫度下的介電常數加溫裝置:采用陶瓷纖維外旦內部嵌入加熱絲組成,有著良好地保溫隔熱和升溫性能低溫介電溫譜測試系統

詳情介紹

低溫介電溫譜測試系統


高低溫介電溫譜/頻譜測量系統

一、 概述:

高低溫介電常數適用于各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質,通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究科研機關、高校、工廠等地方。它是在特殊環境下,測量介質在該環境溫度下的介電常數。

二、技術指標:

1、電極直徑:10mm  數量:4

2、電極材料:鉑金

3、測試電極:四通道,可以同時測試4路試樣

4、切換頻率:可以自由設定試樣切換時間

5、試驗方式:手動模式  自動模式

6、試驗數據:可導出測試原始數據,同時可以輸出測試曲線及打印試驗報告

7、測量頻率:以實際電橋為準

8、溫度范圍:室溫~950°精度±0.1°C

9、加溫速率:2--10/min

10、數 據 線:銅鍍銀,低溫屏蔽線

10、機  箱:Q235鋼板表面高溫噴塑而成

11、儀器供電:AC:220V  50Hz   功率:2KW

12、測試電橋:國產

13、試驗環境:請不要在多塵、多震動、日光直曬、有腐蝕氣體下使用。

儀器使用時應遠離強電磁場,以免干擾實驗結果。


低溫介電溫譜測試系統

高溫四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數據,自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數據,自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。

低溫介電溫譜測試系統


冠測公司自主研發電性能專業檢測儀器分類

序號

設備名稱

設備型號

測試指標

備注

1

電壓擊穿試驗儀

DDJ10KV-150KV

介電強度、泄漏電流

介電強度、泄漏電流

2

體積表面電阻測定儀

GEST-121

體積電阻率、表面電阻率

體積電阻率、表面電阻率

3

高頻介電常數測試儀

GCSTD-A

介電常數、介質損耗

測試頻率10KHZ-50MHZ

4

高頻介電常數測試儀

GCSTD-B

介電常數、介質損耗

測試頻率20KHZ-160MHZ

5

工頻介電常數測試儀

GCSTD-C

介電常數、介質損耗

測試頻率50HZ

6

高低頻介電常數測試儀

GCSTD-D

介電常數、介質損耗

測試頻率20HZ-5MHZ

7

耐電弧試驗儀

NDH-A

耐電弧

微機控制、觸摸屏控制

8

高壓漏電起痕試驗儀

NLD-AI

高壓等級測試

*高電壓6KV

9

耐電痕化指數測定儀

NLD-B

CTI/PTI

*高電壓600V

10

電線電纜耐電痕試驗儀

NLD-C

漏電痕跡、電痕化

觸摸屏

11

導體電阻率測定儀

GEST-125

導體電阻率

觸摸屏

12

半導體電阻率測定儀

GEST-123

半導體電阻率

觸摸屏

13

炭素材料電阻率測定儀

GEST-122

電阻率

觸摸屏

14

石油焦粉末電阻率測定儀

GEST-124

電阻率

觸摸屏

15

回路電阻測定儀

HLD-100A

回路電阻

數字

16

高溫耐壓試驗儀

DDJT-10KV-150KV

高溫耐壓

溫度和電壓范圍可選

17

介電溫譜特性測定儀

GCWP-A

溫譜、頻譜

溫度和頻率范圍可選


三、整機組成:

1、加溫裝置:采用陶瓷纖維外旦內部嵌入加熱絲組成,有著良好地保溫隔熱和升溫性能

2、控制系統:可實現對溫控升溫、降溫控制,同時對4路試樣進行切換,實時測控測試數據

3LCR電橋:20HZ-2MHZ


低溫介電溫譜測試系統

功能特點:
公司自主研發有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具,可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統。
控溫精度高
溫度范圍從室溫至600、800℃,具備**的PID控制算法,控溫精度可到±0.3℃,確保溫度控制不超調。提供7種不同控溫方式,滿足客戶多種測試需求。 國際標準測試,數據更加可靠; 高溫介電測試夾具根據國際標準ASTM D150方法,采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電**有良好的同心度和平行度,保護電極可減少周圍空氣電容的影響,使得測試數據更加準確可靠。
阻抗分析儀集成度高,可定制開發

功能特點
夾具多樣化,1+3組合便捷實用
公司自主研發有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具,可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統。
控溫精度高,7種控溫方式可選
 溫度范圍從室溫至600、800℃,具備**的PID控制算法,控溫精度可到±0.3℃,確保溫度控制不超調。提供7種不同控溫式,
滿足客戶多種測試需求。
應用范圍:
無源元器件:電容器、電感器、鐵氧體磁珠、電阻器、變壓器或晶體/陶瓷諧振器的阻抗測量。
半導體元器件:變容二極管的 C-V 特征分析。二極管、晶體管、放大器或 MEMS 的阻抗測量。
高溫介電溫譜測量系統是為了滿足材料在高溫環境下的介電性能測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電溫譜測量系統軟件四個組成部分。
標準測試,數據更加可靠
高溫介電測試夾具根據標準ASTM D150方法,采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電**
有良好的同心度和平行度,保護電極可減少周圍空氣電容的影響,使得測試數據更加準確可靠。
阻抗分析儀集成度高,可定制開發
高溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與分析。

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