薄膜變溫電阻測試儀（TRT ）
本儀器由高精度電阻測試儀、溫度測試儀、高斯計、變溫樣品爐、四端測試組件、數(shù)據(jù)采集軟
件和數(shù)據(jù)采集處理計算機(jī)幾個部分組成。
產(chǎn)品特點
采用高精度電阻測試儀和溫度測試儀測量材料電阻 R 隨溫度 T 的變化；
采用 Helmholtz 線圈提供均勻的磁場，用它可以產(chǎn)生極微弱的磁場直至數(shù)百 Gs 的磁場。用四
端法測量樣品電阻隨溫度的變化，可減小接觸電阻對測量的影響，提高測量精度；
采用氮氣保護(hù)，可連續(xù)測量樣品在-100~800℃范圍內(nèi)電阻隨溫度的變化；
采用流行的 USB2.0 接口與計算機(jī)相連，數(shù)據(jù)采集迅速準(zhǔn)確；
用戶界面直觀友好，方便用戶使用。
技術(shù)參數(shù)
溫度范圍 -100~800 ℃
磁場變化范圍 0~1.3T
電阻測量范圍 1μΩ~3MΩ，準(zhǔn)確度：± 0.1％FS
溫度測量精度 熱電阻 0.1% ± 0.1℃；熱電偶 0.5% ± 0.5℃
恒流源 1μA~1A，準(zhǔn)確度：± 0.1％FS（FS 為滿量程值）
供電電源 220 V AC
額定功率 < 2000W
應(yīng)用
金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測量
金屬薄膜材料的電阻率，磁阻的測量（zui大厚度 0.2 毫米）
金屬塊體材料電阻率的測量（zui大厚度 3 毫米）
磁性合金薄膜的磁電阻測量
鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量
自旋閥型巨磁電阻薄膜、隧道結(jié)型磁電阻薄膜的磁電阻測量
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