B2S-EN(500036)美國GE保護膜探頭
應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
類型 | 訂購號碼 | D | f | N | 備注 | ||
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| mm | in | (MHz) | mm | in |
|
B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
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B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 頂端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
|
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 頂端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
|
B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 頂端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 |
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直探頭：
B1S,B2S,B4S,MB2S,MB4S,MB5S,K1G,K2G,K4G,K1N,K2N,K4N,K5N,K5K,K10K,G1N,G2N,G4N,G2KB,G5KB,G5K,G10K,
B1F,B2F,B4F,B5F,MB2F,MB4F,MB5F,MB10F,
應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數誤差小，適合高精度檢測
可更換保護膜，保護探頭不被磨損
柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產品）
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