MC-2000D漆膜測厚儀（鍍層測厚儀）測量范圍：10～9000um，MC-2000D漆膜測厚儀采用單片機技術，精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測量、體積小、重量輕；且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、零點校準、兩點校準及系統校準

影響測量的若干因素：

基體金屬磁化：磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與鍍件金屬具有相同性質的鐵基片上 對儀器進行校對。

基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應：本儀器對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

曲率：試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點。

磁場：周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性測量厚度的工作。

附著物質：本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭的放置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

試片的變形：探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會出現不太可靠的數據。

讀數次數：通常儀器的每次讀數并不相同。因此必須在每一測量面積內取幾個測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內進行測量.表面粗糙時更應如此。

       第三章   維護與檢修

1. 儀器應防止潮濕、過熱和接觸腐蝕性氣體和液體。

2. 不可晃動或揪扯探頭線。

3. 儀器應保持清潔。

4. 儀器不用時應取出電池。

5. 測量不正常時應作下述處理：

Ａ：查電壓是否正常，電池正負極是否接觸良好。

Ｂ：測量方法是否得當。

Ｃ：重大故障送廠或廠維修部修理。

D：每次使用必須先插上探頭然后再開機，否則儀器不自檢。

附一   裝箱單

一、涂層測厚儀主機（MC-2000C）        一臺

二、1.5v電池 (7號)                     二節

三、探頭                               一支

四、標準樣片      　　　　　　         一盒

五、小鋁箱                             一個

六、說明書、合格證                     一套

 選配件：微型打印機，數據線，操作軟件 內防腐探頭