產(chǎn)品介紹：法國PHASICS 的波前分析儀（上海屹持光電代理），基于其波前測量——四波橫向剪切干涉技術(shù)（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn)型，這種的技術(shù)將高分辨率和大動態(tài)范圍很好地結(jié)合在一起。能實(shí)現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。

主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 激光光束參數(shù)測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數(shù)

2.自適應(yīng)光學(xué)：焦斑優(yōu)化，光束整形

3.元器件表面質(zhì)量分析：表面質(zhì)量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑4.光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學(xué)鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制5.熱成像分析，等離子體特征分析

6.生物應(yīng)用：蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.高分辨率：采樣點(diǎn)可達(dá)120000個

2.可直接測量：消色差設(shè)計(jì)，測量前無需再次對波長校準(zhǔn)

3.消色差：干涉和衍射對波長相消

4.高動態(tài)范圍：高達(dá)500μm

5.防震設(shè)計(jì)，內(nèi)部光柵橫向剪切干涉，對實(shí)驗(yàn)條件要求簡單，無需隔震平臺也可測試