高性能X射線熒光測量儀，涂層測厚儀操作規程，配有的硅漂移探測器(SDD)，涂層測厚儀應用，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

特點

• 高性能機型，鐵基鋁基涂層測厚儀，具有*的綜合測量能力
• 配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
• 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，非接觸式涂層測厚儀，還適用于更復雜的多元素分析
• 由下至上的測量方向，在線涂層測厚儀，可以非常簡便地實現樣品定位

典型應用領域

• 對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
• 對有害物質進行痕量分析，涂層測厚儀檢定，例如，d4涂層測厚儀，玩具中的鉛含量
• 在珠寶和手表業，qnix涂層測厚儀，以及在金屬精煉領域，非接觸涂層測厚儀，對合金進行高精度的分析
• 用于高校研究和工業研發領域