表面殘留檢測儀可以監測到0.3 μg/cm2殘余量的有機化合物殘留,表面殘留檢測儀可廣泛用于金屬,玻璃,聚合物表面的材料檢測分析,是的的表面殘留分析儀。
高靈敏度表面殘留分析儀特點
采用的FTIR光譜技術，
高精度地探測物體表面的有機化合物，
是目前范圍內這一技術的靈敏度的表面檢測儀器。
表面殘留分析儀特點
可以監測到0.3 μg/cm2殘余量的有機化合物殘留，
可廣泛用于金屬，玻璃，聚合物表面的材料檢測分析。
比如，計算機硬盤和制藥反應器表面的殘留都可以使用這種表面殘留檢測儀檢測，即使存在清潔劑和其它輔料等殘留，也可以分析檢測到原料藥成分（APIs）.
能夠實時分析復雜表面，手持式測量探頭放置到表面上就可以直接測量，使用非常簡易方便。
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