SparkCCD 6500 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線陣 CCD（Charge-coupled Device）作為檢測(cè)器，實(shí)現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng)，儀器性能更穩(wěn)定，服務(wù)期 限更長(zhǎng)久。海量的譜線使分析不再受限，曲線分段跳轉(zhuǎn)，同一元素不同譜線間實(shí)現(xiàn)無縫銜接，拓 展分析范圍第三元素干擾校正使元素分析更加準(zhǔn)確，可以在用戶現(xiàn)場(chǎng)任意增加分析基體和分析元 素而無需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)方便。能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料； 網(wǎng)口采集傳輸，速度快，通用性更強(qiáng)。

　　可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Mn等金屬及其合金的樣品分析

　　儀器參數(shù)：

　　1、檢測(cè)器靈敏度

　　高分辨率CCD檢測(cè)器

　　像素?cái)?shù)：3648+46

　　像素尺寸： 8μm

　　精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低

　　2、萬級(jí)超凈環(huán)境下打造最Y優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)

　　帕邢—龍格架法，光柵焦距500 mm高發(fā)光全息光柵，刻線為2700條/mm

　　線分辨率：0.7407nm/mm

　　像素分辨率：0.005926nm

　　譜線范圍：160-500nm

　　3、分片式曝光，痕量元素識(shí)別強(qiáng)度大 幅提高，檢出限更低

　　一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)

　　獨(dú)立控制不同CCD的積分曝光時(shí)間

　　提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限

　　隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的穩(wěn)定性

　　4、智能控制系統(tǒng)

　　潮汐式?jīng)_洗方式

　　智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氬氣，降低氬氣消耗

　　60ml/min超低待機(jī)流量，一瓶氬氣24小時(shí)待機(jī)70天

　　5、全固態(tài) 數(shù)字火花光源

　　全固態(tài)數(shù)字火花光源（國家技術(shù) 號(hào) ZL .4）

　　能量、頻率連續(xù)可調(diào) 頻率最G高可達(dá) 1000Hz

　　MTBF（平均間相隔時(shí)間） ＞5000小時(shí)

　　6、同軸自旋式 氣路激發(fā)臺(tái)

　　自旋氣路

　　增壓式自吹掃

　　激發(fā)充分

　　千次激發(fā)無需清理

　　如何對(duì)譜線進(jìn)行校正?

　　由于外界環(huán)境變化、儀器設(shè)施改動(dòng)和時(shí)間累積等原因，譜線會(huì)發(fā)生漂移，此時(shí)可利用光譜校正標(biāo)樣對(duì)儀器進(jìn)行校正，光譜校正標(biāo)樣屬于儀器的配套產(chǎn)品，在使用過程中應(yīng)當(dāng)節(jié)約，盡量不要用作其他用途。當(dāng)光譜校正標(biāo)樣使用完以后，請(qǐng)聯(lián)系儀器維護(hù)工程師，不建議自行購買。一般校正的方法如下：

　　全譜型：只需激發(fā)單塊標(biāo)樣，即可通過軟件算法自動(dòng)完成所有譜線的校正。

　　多道型：通過描跡完成校正，校正時(shí)需激發(fā)一組標(biāo)樣才能完成所有通道的校正，如果儀器各通道的漂移不一致，單純的描跡無法完成校正，需要通過調(diào)整出射狹縫位置或折射鏡角度，來校正譜線的變化，此操作需要專Y業(yè)的維修工程師才能完成。