QFN56-0.35下壓探針測試座
產品簡介
產品用途:編程座、測試座,對QFN56的IC芯片進行燒寫、測試
適用封裝:QFN56引腳間距0.35mm
測試座:QFN56-0.35
特點:采用進口探針,接觸更穩定,壽命更長。批量出貨交期短、可耐高低溫!
規格尺寸
型號:QFN-56-0.35
引腳間距(mm): 0.35
腳位:56
適配芯片尺寸:6*6 mm
產品展示





昆山邁瑞斯機械科技有限公司
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QFN56-0.35下壓探針測試座 產品簡介 產品用途:編程座、測試座,對QFN56的IC芯片進行燒寫、測試 適用封裝:QFN56引腳間距0.35mm 測試座:QFN56-0.35 特點:采用進口探針,接觸更穩定,壽命更長
QFN56-0.35下壓探針測試座
產品簡介
產品用途:編程座、測試座,對QFN56的IC芯片進行燒寫、測試
適用封裝:QFN56引腳間距0.35mm
測試座:QFN56-0.35
特點:采用進口探針,接觸更穩定,壽命更長。批量出貨交期短、可耐高低溫!
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型號:QFN-56-0.35
引腳間距(mm): 0.35
腳位:56
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