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沈陽華儀時代科技有限公司
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Cypher S原子力顯微鏡

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:363
  • 品牌:
  • 產品類別:顯微鏡
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-08-03 17:27:36
  • 瀏覽次數:4
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沈陽華儀時代科技有限公司

其他

  • 經營模式:其他
  • 商鋪產品:115條
  • 所在地區:
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  • 最近登錄:2023-08-03
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產品簡介

詳情介紹

CypherTM高分辨率的快速掃描原子力顯微鏡
使用下一代原子力顯微鏡技術來解析這個納米世界
我們一直期待能夠有一些真正創新的AFM/SPM新技術誕生,但是過去十幾年里原子力顯微鏡技術出現的只是對舊技術的調整。現在牛津儀器Asylum Research推出的全新的Cypher S原子力顯微鏡小樣品AFM/SPM 。它更加*、易操控、多功能、模塊化、高分辨率且掃描速度提高20倍以上。
沈陽華儀-牛津儀器CypherTM最高分辨率的快速掃描原子力顯微鏡
能夠在閉環條件下實現原子級成像的高分辨原子力顯微鏡
使用小探針高速成像(10秒成像)
高速、低噪音的力學測試
分辨率到達衍射極限的輔助光學系統
全自動激光對探針和下針功能


閉環原子級分辨率
通過在三個掃描軸上都使用準確的閉環傳感器確保能夠實現高分辯率的準確成像。有了Cypher,您不再為選擇準確的閉環控制或是低噪音的開環控制而煩惱。Asylum的第三代納米位置控制系統傳感器 (NPS) 可以為您提供噪音控制水平。使用準確的納米定位器可以提供X、Y和Z軸方向優于60pm的準確控制,不僅可以在閉環條件下獲得原子級別的分辨率,你還能獲得更加準確的測試、定位和納米操縱能力。
沈陽華儀閉環原子級分辨率
SpotOn自動校對激光系統
SpotOn全自動激光耦合系統為您提供簡單的操作。使用Cypher的全電動化激光和光學位置探測器,僅需要輕點鼠標就可以將激光光斑自動對焦到探針和光學位置探測器的中心。
沈陽華儀SpotOn自動校對激光系統

高速度、低噪音的小探針
Cypher系統的激光光斑小可達3μm,允許使用微小探針進行高速輕敲模式成像(10秒成像)。Cypher提供激光定位光斑可以讓您使用10μm以下的探針,這樣就能使您獲得高速的成像和亞皮牛量級的力學測試。
沈陽華儀高速度、低噪音的小探針

blueDrive 光熱激發系統
blueDrive光熱激發系統,一款專用于Cypher原子力顯微鏡的配件。blueDrive能讓輕敲模式極為簡化、穩定和準確。blueDrive代替了傳統的壓電陶瓷激發原理,改用藍色激光加熱懸臂梁,使得懸臂梁在空氣和液體中振動響應都很理想,并且使輕敲模式更易操作、性能超群。
沈陽華儀blueDrive 光熱激發系統

從頭到尾的全新設計
Cypher系統的機械設計使其固有的避免了外界振動對系統的影響,不需要外加防震平臺就能實現高精度的測量。一體式的結構設計減小了熱漂移并降低了外部噪音的影響。系統的整體設計使原子級平整的樣品都不會受到周期性噪音的影響。Cypher的尺寸僅有40×42cm極大的節省了實驗空間。
可更換光源模塊拓寬了掃描模式和應用的選擇。MultiLuxTM光源模塊提供多種不同光斑尺寸的二極管激光器和低相干的SLD光源以支持不同尺寸的探針。不同模塊的更換只需要一分鐘。
高分辨率的上視光路僅受限于光學衍射。用戶可在690×920μm視窗下觀察到亞微米的分辨率(20×物鏡),并可任意的進行縮放和移動位置。系統選用科勒系統進行照明。
Cypher一體式的結構設計減小了熱漂移,提高了成像的穩定性。掃描過程中的熱漂移控制較以往的AFM提高10倍以上。
售后服務:AsylumResearch為Cypher提供業內長的兩年免費質保,兩年之內,產品質量出現任何問題我們都將免費進行維修或更換。

應用實例
Cypher系統中,你可以進行在其他AFM都無法想象的研究。下面是Cypher探究納米世界的幾個具體應用例子:

方解石樣品原子缺陷的重復掃描,掃描范圍20nm

DNA樣品的高分辨率掃描,能偶區分出DNA雙螺旋的大小溝。掃描范圍150×75nm

DNA拉伸力譜,pN量級分辨率

閉環條件Dual AC模式對collagen的成像

Bacteriorhodopsin胞外表面的閉環輕敲模式成像,掃描范圍5nm

Cypher系統功能模式
接觸模式:利用探針彎曲反饋進行成像??梢垣@得高度,反饋和橫向力信號
輕敲模式(AC mode):帶有Q-control技術的振幅反饋成像。可在大氣或液相環境下獲得高度,振幅/相位,反饋等信號
力學模式:輕敲或接觸模式下的力曲線測試
Dual ACTM:在成像和諧波測量時提供多頻率驅動和分析
壓電力顯微鏡(Piezoresponse Force Microscopy):對壓電材料提供高靈敏度、高偏壓的無干擾測量
靜電力顯微鏡(Electric Force Microscopy, EFM)
掃描開爾文顯微鏡(Scanning Kelvin Probe Microscopy, SKPM)
磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscopy,MFM)
納米刻蝕
納米操縱
頻率調制(Frequency Modulation)

可選模式
ORCA模塊-實現導電AFM:在恒定電壓下通過測試電流實現電學表征
掃描隧道顯微鏡
blueDriveTM光熱激發模塊
iDriveTM磁力激發液相成像模塊
能帶激勵(Band EXcitation)物性測量模塊

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