將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中，與使用傳統(tǒng)SEM/EDS 檢驗(yàn)相比， 測(cè)定微觀結(jié)構(gòu)成分的時(shí)間可節(jié)省90%。集成激光光譜功能可針對(duì)您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。

l用于目視和化學(xué)分析的二合一系統(tǒng)

l1 秒即可獲得化學(xué)元素圖譜

l無(wú)需樣品制備

l只需一次單擊，即可準(zhǔn)確檢查通過(guò)目鏡或攝像頭觀察的物質(zhì)，從而快速簡(jiǎn)單的識(shí)別和解釋。

l操作員不需要額外的專(zhuān)業(yè)性知識(shí)

實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確材料分析的二合一系統(tǒng)

徠卡DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分。

識(shí)別感興趣的微觀結(jié)構(gòu)成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā)LIBS 分析。

l與典型的電鏡方法*相比，節(jié)省90% 的時(shí)間，而且

l以可靠的目視和化學(xué)檢驗(yàn)材料信息為基礎(chǔ)，快速做出自信的決策。

*可根據(jù)要求提供證明

無(wú)需SEM 樣品制備

為什么使用徠卡DM6 M LIBS 解決方案進(jìn)行材料分析能節(jié)省90% 的時(shí)間？因?yàn)檫@種解決方案：

l無(wú)需樣品制備和轉(zhuǎn)移；

l無(wú)需系統(tǒng)調(diào)節(jié)；

l無(wú)需重新定位感興趣區(qū)域(ROI)。

l減少工作流程

l將工作流程精簡(jiǎn)至只有一個(gè)步驟，以結(jié)果為重點(diǎn)。

組件清潔度分析

徠卡DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與Cleanliness Expert 分析軟件相結(jié)合，讓您僅使用一臺(tái)儀器和一個(gè)工作流程即可對(duì)過(guò)濾器上的樣品進(jìn)行目視和化學(xué)檢驗(yàn)。

這樣可以更輕松地找到污染源。

做出自信的決策

通過(guò)快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)，您將得到在分析過(guò)程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢(shì)。

微觀結(jié)構(gòu)成分的評(píng)估

徠卡DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結(jié)構(gòu)和元素/化學(xué)分析，例如礦石、合金、陶瓷等。

無(wú)需進(jìn)行樣品制備，也無(wú)需在2 個(gè)或更多設(shè)備之間進(jìn)行轉(zhuǎn)移。整個(gè)分析工作流程全部在一臺(tái)儀器上完成。

減少占用人力資源的樣品制備

減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的SEM/EDS 分析，從而節(jié)省時(shí)間和資金。

材料的深度剖面圖和層次分析

LIBS 的消融原理可被運(yùn)用于材料的微型打孔。

微型打孔可應(yīng)用于諸如：

l深度剖面

l層次分析

l表面清潔

在測(cè)定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時(shí)，深度剖面有用。

層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。

利用表面清潔可以去除氧化物和污染。

LIBS：您的化學(xué)分析研究利器

徠卡DM6 M LIBS 解決方案運(yùn)用激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)  使定性化學(xué)分析成為可能。

單擊即可觸發(fā)分析，激光將穿透樣品上的瞄準(zhǔn)點(diǎn)。一個(gè)等離子體將會(huì)產(chǎn)生，然后分解。產(chǎn)生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。

軟件將圖譜與已知的元素和化合物數(shù)據(jù)集進(jìn)行對(duì)比，從而確定微觀結(jié)構(gòu)的成分。數(shù)據(jù)集可以隨著用戶(hù)獲得的具體材料結(jié)果得到擴(kuò)充。