美國International Light致力于提供各種 的光刻膠 儀器來實現(xiàn)這些困難的測量。ILT2400輻照計具有采用可能換分離探頭設(shè)計，具有8個量級的動態(tài)測量范圍，測量速度可達100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持研究質(zhì)量，測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準報告。International Light XSD340A探頭測量光譜范圍320-475nm，校準于405nm，適用于PCB曝光系統(tǒng)光刻膠工藝、UVA光源強度，可測量8e-7 至10W/cm2曝光輻照強度。
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國際光學(xué)International Light XSD系列光阻劑曝光探測器
ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準于405nm波長
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準于405nm波長
ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光譜范圍326-401 nm，中心波長365nm
ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高強度，測量光譜326-401 nm，校準于365nm
測光表及探頭規(guī)格說明書download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf
美國International Light PCB印刷線路板曝光測量輻照計與探頭選型表
| 輻照計/探頭組合 | 響應(yīng)波長頻譜 | 測量范圍 | 類型及應(yīng)用 |
| ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm2 | 臺式，Photoresist光刻膠/光阻材料， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，同上 |
| ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm2 | 臺式，Photoresist光刻/光阻劑，同上 |
| ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm2 | 手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400+XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm2 | 同上，大功 強度輻照探頭 |
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