SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路結構的高分辨率光譜儀。結合創新型的光學器件設計，SR-750配合Andor公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供優質的系統解決方案。
主要特點：
主要特點：
- 分辨率*高可達0.02nm
- 出廠預校準，開箱即可使用
- 多路光譜優化光路，低串擾，高密度多路光譜探測
- USB2.0 接口，即插即用
- 針對每臺譜儀記錄三光柵塔輪信息，便于以后光柵升級
- 雙探測器出口選項，可安裝不同類型探測器滿足不同實驗需求
- 多樣化的附件選擇
- 支持單點探測器，波長*大可達12um
- 光學元件鍍銀選項，保證紅外探測器更好的性能
| 焦距長度 | 750mm |
| 通光孔徑 | f/9.7 |
| 焦平面尺寸 | 28mmX14mm |
| 光譜分辨率 | 0.02nm @ 2400 l/mm @ 300 nm |
| 波長重復性 | 10pm |
| 光柵尺寸 | 68mmX68mm |
| 外形尺寸 | 860X393X213.5 |
| 重量 | 35Kg |
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