XF-S6貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬行業(yè)推出的一款旗艦X射線熒光光譜儀，支持貴金屬成分檢測、鍍層厚度檢測、液體濃度檢測和RoHS檢測，可廣泛應用于珠寶首飾工廠、實驗室、檢測站和回收等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品采用的進口定制Fast-SDD探測器，內(nèi)置四核工控電腦，采用X射線與可見光共焦點光路設計和全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高，適用范圍廣。

貴金屬檢測儀XF-S6產(chǎn)品特點

可支持最多30個元素同時計算

分析范圍：貴金屬：0.010%～99.999%；鍍層厚度：4層，0.002微米～80微米；RoHS：1ppm~99.999%

檢測精度：貴金屬：±0.01%(999金)；鍍層：相對誤差：±1.5%(1微米厚度)；RoHS：1ppm(理想基體效應)

支持多點連續(xù)測試，測試效率高

雙準直器，多濾光片自動切換

遵守GB/T16921，ISO3497：2000，ASTM-B658，IEC62321標準。

貴金屬檢測儀XF-S6產(chǎn)品規(guī)格

輸入電壓：AC100～240V，50Hz

產(chǎn)品包裝尺寸：566mmx531mmx500mm

產(chǎn)品尺寸：450mmx422mmx378mm

樣品艙尺寸：366mmx336mmx141mm

額定功率：180W

毛重：61KG（包含顯示器、UPS等）

凈重：39KG

噪音：50dB

使用環(huán)境：
溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結(jié)露）