Occhio Zephyr系列形態及粒徑分析儀
參數：多達43個粒徑形貌參數的統計結果，可了解樣品總體的概況
(1)粒形參數：等效面積直徑，篩分直徑(內切圓直徑)，平均直徑，Crofton直徑，顆粒長度，顆粒寬度，顆粒zui大長度，體積
(2)粒形參數：ISO 9276-6; 7; 8規定參數包括ISO圓度 ,ISO鈍度 ,ISO緊湊度 ,ISO線性度等 .延伸度,長寬比 ,圓度 ,凹度指數,平均灰度,灰度,橢圓寬度,橢圓長度 ,橢圓度,橢圓比,橢球延伸度,偏心率,實積度,鈍度,粗糙度
(3)粒形參數：磨損指數，晶化度，孔隙度，用戶自定義
(4)數據存儲：oph 數據存儲格式可存儲：粒徑分布，粒徑粒形。百分數獨立顆粒圖像及灰度
(5)數據比較：可顯示無上限多樣品比較圖表
(6)可顯示圖表：粒徑分布圖，粒徑百分數，粒形百分數，平均粒形，2D散點分布圖
，3D散點分布圖，樣品圖像百分比，樣品圖像，獨立顆粒圖像
(7)統計工具：形貌學和粒徑過濾方式
(8)顯微鏡模式：有手動選項，可手動設置樣品流速、實時觀察顆粒并顯示顆粒參數、存儲所需顆粒圖像
(9) 外部數據分析：可輸入、分析外部數據
分析領域：是篩分法的理想替代方案。適合顆粒，如金剛石、煙草、鹽/糖、塑料、催化劑、研磨劑、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、藥物、金屬粉末、標準品、水泥、礦石等的質量控制。可在線應用
Occhio Zephyr系列形態及粒徑分析儀主要特點：
精心設計的進樣裝置易于拆卸、方便清洗
專為大顆粒設計的樣品輸送系統無損耗
*的光路設計確保聚焦精度，并可消除小顆粒邊緣效應
通過高分辨CMOS得到高清晰顆粒圖像
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