一、儀器用途
本儀器廣泛應(yīng)用光學(xué)工廠、玻璃廠、透明塑料制品工業(yè)及其它光學(xué)材料的應(yīng)力值等檢測單位測量,也適合科學(xué)研究單位測量光學(xué)晶體的光程差值。
應(yīng)力儀是來測定透明物體由于內(nèi)應(yīng)力而產(chǎn)生的雙折射現(xiàn)象的儀器。這種雙折射(應(yīng)力)的來源,是由于均勻的冷卻或外界機(jī)械作用等原因引起的。
二、儀器特點(diǎn)
應(yīng)力儀是應(yīng)用偏振光干涉原理檢查玻璃內(nèi)應(yīng)力或晶體雙折射效應(yīng)的儀器。由于備有全波片,因此本儀器不僅可以根據(jù)偏振場中的干涉色序定性或半定量的測量玻璃的內(nèi)應(yīng)力數(shù)值。
三, 主要參數(shù)
應(yīng)力測量范圍:560mn(一級干涉光)以下;定性位置:全波片光程差560nm;栓偏鏡通光口徑:Ф150mm;臺面琧通光口徑:Ф220mm;可測量樣品zui大高度:250mm;定性位置:應(yīng)力測量范圍:280nm(一級干涉光)以下;分辨率:0.2nm |






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