這款寬帶光學(xué)薄膜測厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光等，這款寬帶光學(xué)薄膜厚度測量儀也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n和k)。

　　這套光學(xué)薄膜測厚儀基于白光反射光譜技術(shù)，膜層的表面和底面反射的光VIS/NIR光譜，也是干涉型號被嵌入的光譜儀收集分析，結(jié)合多次反射原理，給出膜層的厚度和光學(xué)常數(shù)（n，k).

光學(xué)薄膜厚度測量儀到貨即可使用，僅僅需要用戶準(zhǔn)備一臺計(jì)算機(jī)提供USB接口即可，操作非常方便。

寬帶光學(xué)薄膜測厚儀特點(diǎn)

　　易于安裝

　　軟件基于Windows系統(tǒng)，方便使用

　　*光學(xué)設(shè)計(jì)，良好系統(tǒng)表現(xiàn)

　　陣列光譜探測器保證快速測量

　　測量薄膜厚度和折射率高達(dá)5層

　　可測量反射，透射和吸收光譜

　　可用于實(shí)時(shí)在線的薄膜厚度和折射率測量

　　具有齊全的材料光譜舍數(shù)據(jù)庫

　　可升級到顯微分光光度計(jì)

　　適合不同襯底和不同薄膜厚度測量

寬帶光學(xué)薄膜測厚儀參數(shù)

　　波長范圍：250-1700nm

　　光點(diǎn)大小：500um - 5mm

　　樣品大小：200x200mm 或200mm 直徑

　　襯底厚度： 高達(dá)50um

　　測量薄膜厚度范圍： 2nm -150um

　　測量時(shí)間：最小2ms

　　精度：0.5%

　　重復(fù)精度 lt;1A

寬帶光學(xué)薄膜測厚儀應(yīng)用

　　半導(dǎo)體制造

　　液晶顯示屏測量

　　刑偵

　　生物膜測量

　　礦石地質(zhì)分析

　　制藥醫(yī)學(xué)分析

　　光學(xué)鍍膜測量

　　功能薄膜MEMS測量

　　太陽能電池薄膜測量