這款X射線(xiàn)熒光光譜測(cè)厚儀Thick800A是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀和X射線(xiàn)厚度測(cè)量?jī)x.主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量,電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).由于X光測(cè)厚儀是在線(xiàn)測(cè)量?jī)x表,檢測(cè)的厚度是鋼板熱態(tài)時(shí)的厚度,這樣會(huì)和冷態(tài)時(shí)的厚度有一定的偏差,所以就增加了溫度補(bǔ)償系數(shù).使在線(xiàn)測(cè)量的數(shù)據(jù)與冷態(tài)時(shí)保持一致.同樣如果軋制材質(zhì)有變化時(shí),也會(huì)給測(cè)量帶來(lái)誤差.這時(shí)只需將不同材質(zhì)的樣板進(jìn)行檢測(cè),計(jì)算出合金補(bǔ)償系數(shù),也可以使測(cè)量數(shù)據(jù)和實(shí)際材質(zhì)厚度保持一致.

　　X射線(xiàn)熒光光譜測(cè)厚儀的主要優(yōu)勢(shì)有：

　　1、X光測(cè)厚儀有優(yōu)化的配置，性?xún)r(jià)比。

　　2、提供的控制參數(shù)。

　　3、測(cè)量中不會(huì)造成對(duì)金屬鍍層的表面劃傷和其他缺陷。

　　4、X光測(cè)厚儀精確，穩(wěn)定，高速的無(wú)接觸測(cè)量。

　　5、備件充足，售后服務(wù)快速細(xì)致。

　　x射線(xiàn)熒光光譜測(cè)厚儀Thick800A技術(shù)指標(biāo)元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

　　分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）

　　任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

　　多變量非線(xiàn)性回收程序 適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

　　電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

　　外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

　　重量：90kg

　　x射線(xiàn)熒光光譜測(cè)厚儀Thick800A特色

　　1.可測(cè)量0.01um-300um的鍍層。

　　2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測(cè)量。

　　3.除平板形外，還可測(cè)量圓形、棒形（細(xì)線(xiàn)）等各種形狀。

　　4.可制作非破壞性膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板。

　　5.該電鍍膜厚檢測(cè)儀可檢查非破壞式膜厚儀的測(cè)量精度。

　　6.可高精度測(cè)量其他方式不易測(cè)量的三層以上的鍍層。

　　7.可對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，以及和逐級(jí)進(jìn)行共同管理。

　　8.標(biāo)準(zhǔn)板校正值的計(jì)算和設(shè)定可自動(dòng)進(jìn)行，非常簡(jiǎn)單。

　　9.有微處理器來(lái)進(jìn)行計(jì)算、儲(chǔ)存、思考。

　　10.本膜厚儀采用全對(duì)話(huà)是操作，因此，只要依據(jù)測(cè)量條件來(lái)進(jìn)行設(shè)定就可測(cè)量情況，非常簡(jiǎn)單。

　　11.多可設(shè)定四層鍍層，而每一層均可進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。例如：測(cè)量條件、平均值、值、小值、上下限值、直方圓均可進(jìn)行計(jì)算并可有列印機(jī)印出，制作測(cè)量報(bào)告很容易。

　　12.每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)的選擇，均可由電鍍膜厚檢測(cè)儀的微處理器自動(dòng)判斷、設(shè)定。

　　13.測(cè)量數(shù)據(jù)可由通訊網(wǎng)路來(lái)傳輸，所以能和主機(jī)共同進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。

　　14.由于分解速度差距分得很細(xì)，因此可縮短測(cè)量時(shí)間。

　　15.可分離測(cè)量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴(kuò)散（合金）層。

　　16.由于可儲(chǔ)存６４個(gè)不同的測(cè)量情況，所以有相同的測(cè)量情況時(shí)，就不必再進(jìn)行設(shè)定。