RTS-3型手持式四探針測試儀
RTS-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,專用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
RTS-3型手持式四探針測試儀采用了*新電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
RTS-3型手持式四探針測試儀適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的手持式設(shè)計;
體積僅為:185mm(長)*90mm(寬)*30mm(高); 重量:350g;
使用鋰電池供電,一次充電可連續(xù)使用100小時;
RTS-3型手持式四探針測試儀就是參數(shù)
| 測量范圍 | 電阻率:0.01~1999.9Ω.cm; |
| 恒流源 | 電流量程分為100μA、1mA兩檔,兩檔電流連續(xù)可調(diào) |
| 數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; |
| 四探針探頭基本指標 | 間距:1±0.01mm; 針間絕緣電阻:≥1000MΩ; 機械游移率:≤0.3%; |
| 四探針探頭應用參數(shù) | (見探頭附帶的合格證) |
| 模擬電阻測量相對誤差 | 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
| 整機測量*大相對誤差 | (用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5% |
| 整機測量標準不確定度 | ≤5% |
| 外型尺寸 | 185mm(長)*90mm(寬)*30mm(高) |
| 重量 | 350g |
| 電源 | 鋰電池,一次充電可連續(xù)使用100小時; |
| 標準使用環(huán)境 | 溫度:23±2℃; 相對濕度:≤65%; 無高頻干擾; 無強光直射; |












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