華測高溫鐵電測試儀-

產品名稱：華測高溫鐵電測試儀-

產品型號：HCTD-800

品牌：北京華測

產品介紹

本測試儀用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的科學研究及近代物理實驗中的固體物理實驗以及工業化生產鐵電存儲器的鐵電性能檢測中。本測試系統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

本測試系統采用虛地模式測量電路，與傳統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和校準，并且能實現較高的測量準確度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較全面準確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。

鐵電材料參數測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關特性測量電路構成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關特性，可準確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發生器、高壓信號發生器使用。

產品特點

• 電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數
• 鐵電疲勞性能測量
• 鐵電保持性能測量
• 電阻測量
• 漏電流測量
• 高精度三維移動平臺

軟件功能

HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro,采用labview系統開發，符合導體、半導體材料的各項測試需求，具備*的穩定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，支持新的標準。兼容，XP、win7、win10系統。

友善的使用界面

多語界面：支持中文/英文 兩種語言界面；

即時監控：系統測試狀態即時瀏覽，無需等待；

圖例管理：通過軟件中的狀態圖示，一目了然，立即對狀態說明，了解測試狀態；

使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；

故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。

硬件支持

• 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器
• 集成打印機接口，大可擴充8個USB接口
• 支持16G內存，60G固體硬盤，讓系統運行更加流暢。

應用領域

• 鐵電材料的電滯回線（動態與靜態）、漏電流等特性。
• 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。
• 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。

技術參數

1、電壓范圍：±30V（可擴展至±4KV）

2、輸出電流峰值：±1A

3、大負荷電容：1μF

4、動態電滯回線測試頻率：0.001Hx～100kHz

5、鐵電材料漏電流的測試：10pA～100mA

6、小脈沖寬度：25ns

7、上升時間：7ns

8、極化測試精準到：10fC

9、塊體材料樣品盒可進行室溫～1200℃電滯回線測定