島津企業管理（中國）有限公司
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EDX-LE能量色散X射線熒光光譜儀使用X射線照射樣品，測量所產生的熒光X射線的能量（波長）和強度，以確定樣品中元素組成的種類和含量。由于X射線熒光光譜法可以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品，也可以快速、非破壞性的測試印刷電路板和其他電子設備中有害元素，因此被廣泛用于的電子電氣和汽車制造企業，應用于符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和質量控制。
EDX-LE能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以*可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外，zui近幾年在眾多企業中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時該裝置作為中國版RoHS第二階段應對手段。
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