徠卡顯微鏡DM12000M是高級(jí)智能數(shù)字式正置顯微鏡，適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒等樣品觀察分析，設(shè)計(jì)安全，保護(hù)鏡頭及觀察者。該顯微鏡12×12大樣品臺(tái)，可對(duì)晶圓進(jìn)行直接的觀察，6孔位的物鏡轉(zhuǎn)盤可配接32mm工業(yè)物鏡，徠卡Leica顯微鏡DM12000M也是一臺(tái)半導(dǎo)體顯微鏡，可配接攝像頭、數(shù)碼相機(jī)進(jìn)行圖像采集、分析、測量。徠卡DM12000M一鍵式的操控設(shè)計(jì)可以為操作提供的便利性。
徠卡DM12000M采用新的光學(xué)設(shè)計(jì),新的LED照明技術(shù)和一體化設(shè)計(jì)整合在顯微鏡上, 低熱輻射和機(jī)身內(nèi)一體化技術(shù)確保了理想的機(jī)身外空氣流動(dòng)狀態(tài)。低能耗的節(jié)電設(shè)計(jì)大大延長了使用壽命,符合綠色環(huán)保的理念。徠卡DM12000M屬于正置的研究型半導(dǎo)體顯微鏡, 適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒等樣品觀察分析，6孔位的物鏡轉(zhuǎn)盤可配接32mm工業(yè)物鏡，可配接攝像頭、數(shù)碼相機(jī)進(jìn)行圖像采集、分析、測量。徠卡DM12000M一鍵式的操控設(shè)計(jì)使用戶可以輕易地完成倍率轉(zhuǎn)換和相關(guān)的照明和相襯效果。得益于徠卡精密觀察和復(fù)檢系統(tǒng)，徠卡DM12000M具有超高的分辨率，全新的傾斜紫外觀察模式(OUV) 融合了紫外以及傾斜光技術(shù),使用戶可以從多種角度來觀察樣品。更多信息可咨詢我們。
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