儀器簡介
科捷光譜/AFS1101 原子熒光光譜儀，采用高集成度電路模塊化設(shè)計、動態(tài)跟隨消噪技術(shù)，提高儀器抗力，避免雜散光的背景干擾；全新設(shè)計機械結(jié)構(gòu)更為緊湊，采用基準光學平面，使原子化器中心與光學焦點有更好的重合度；軟件操作簡單快捷、個性化軟件界面，支持數(shù)據(jù)實時上圖、圖形回放功能，采用USB通訊連接、支持windows XP、win 7 及win 8操作系統(tǒng)，提高軟件通用性；儀器升級型可支持元素形態(tài)分析測試。
性能特點
1. 可雙道同時測定，用于As、Sb、Bi、Hg、Zn、Cd、Au等十二種元素的痕量分析；
2. 采用編碼空芯陰極燈技術(shù)，軟件自動識別空芯陰極燈類型；
3. 采用分離式化學反應系統(tǒng)，氫化物反應均勻，氣水分離效果更佳；
4. 開機自檢、自動設(shè)定燈電流、氣流量；氣路自動控制、自動保護、自動報警；
5. 雙層屏蔽式石英原子化器，自動點燃氬-氫火焰；
6. 比例閥島自動控制氣路，氣體流速更穩(wěn)定；
7. 全新模擬、數(shù)字分離電路設(shè)計，有效消除通道間干擾；
8. 臨界氣體壓力自動報警，防止回火爆鳴；
9. USB通訊自動檢測、實現(xiàn)與原子熒光主機實時聯(lián)機；
10. 支持峰高積分、峰面積積分兩種測試方式；
11. 支持測試數(shù)據(jù)打包歸檔存儲，重新調(diào)用瀏覽功能；
12. 個性化軟件界面，操作簡單快捷；
技術(shù)指標
科捷光譜/AFS1101 原子熒光光譜儀
| 元素 | As Se Pb Bi SbTeSn | Hg Cd | Zn | Ge |
| 檢出限D(zhuǎn).L(ug/L) | <0.01 | <0.001 | <1.0 | <0.1 |
| 精密度(RSD) | ≤0.6% | |||
| 線性范圍 | 大于三個數(shù)量級 | |||
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