Ф200平面平晶，一級(jí)平晶，圓形平晶

上光平面平晶，一級(jí)平晶，圓形平晶

產(chǎn)品名稱：平面平晶 一級(jí)平晶

產(chǎn)品型號(hào)：Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250mm；Ф300mm；Ф400mm；Ф500mm；Ф600mm

簡(jiǎn)介

具有兩個(gè)（或一個(gè)）光學(xué)測(cè)量平面的正圓柱形或長(zhǎng)方形的量規(guī)。光學(xué)測(cè)量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋（見激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù)）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測(cè)量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測(cè)量面的平面度誤差。平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測(cè)量平面是相互平行的，用于測(cè)量?jī)筛吖鉂嵄砻娴钠叫卸日`差，例如千分尺兩測(cè)量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為45～150毫米。其光學(xué)測(cè)量平面的平面度誤差為：1級(jí)精度的為0.03～0.05微米；2級(jí)精度的為0.1微米。常見的長(zhǎng)方形平面平晶的有效長(zhǎng)度一般為200毫米。

平面平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。

平面平晶：用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。

平面平晶：特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

平面平晶的技術(shù)參數(shù)

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