I試片

定量品質 (I) 試片是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片，用以確定磁場方向和相應磁場強度， 亦可用于平衡多向磁場，將磁化次數降至zui少，以提高生產效率。

件號及包裝形式
519630      
人工缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場。缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸 (0.05毫米)。   標準 #KSC-230

519631      
與KSC-230相似，于工件上的小區域，每片上四個圓，可切割開，單獨使用。缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸 (0.05毫米)。   小型 I試片 #KSC-4-230

519632      
用于定量要求更高的作業，人工缺陷呈三個不同深度的同心圓環。缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%， 40%，試片厚度為0.002英寸 (0.05毫米)。   不同深度的 #KSCT-234

521048      
人工缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場。缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.04英寸 (1.02毫米)。   標準 #KSC-430

521049      
用于定量要求更高的作業，人工缺陷呈三個不同深度的同心圓環。缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.004英寸(0.10毫米)。   不同深度的 #KSC4-234