Hysitron TS 77 Select納米壓痕儀

可靠的定量表征

Hys代ron® TS 77 Selec產(chǎn)自動臺式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)提供了同級別儀器中的測試性能，功能性和易用性。基千布魯克的Triboscop鏟電容式傳感器技術(shù)，這套新的測試系統(tǒng)支持從納米到微米尺度的可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。 TS Select具有的，提供眾多性能的測試模塊，包括定量納米壓痕、 動態(tài)納米壓痕、 納米劃痕、 納米磨損和高分辨力學(xué)性能成像功能。

?HysitronTS SelectTesting Modes

納米壓痕

力學(xué)表征

納米壓痕是表征局部微結(jié)構(gòu)、界面＼表面微結(jié)構(gòu)和薄 膜的彈性模噩、硬度 ＼ 蠕變、應(yīng)力松弛和斷裂韌性的常見技術(shù) 。采用布魯克的 Hysit ron T「iboScope 電容式傳感器技術(shù)，丁 S Select 支持納米到微米尺度定星可靠的力學(xué) 性能測量。

力學(xué)性能成像

快速數(shù)據(jù)采集和高速成像

TS Select 提供比傳統(tǒng)納米壓痕測試快180倍的高速測試能力。在寫秒兩次的納米壓痕測試速度下， 可以在幾分鐘內(nèi)得到非均相材料的高分辨率力學(xué)性能圖像 。此外， 高 速測試可以快速采集和統(tǒng)計(jì)分析大量測試數(shù)據(jù)， 從而提高則罩結(jié)果的度。

原位SPM成像

實(shí)現(xiàn)的納米力學(xué)

布魯克原位掃描探針顯微技術(shù)( SPM ) 利用納米力學(xué)測試的壓頭掃描樣品表面從而實(shí)現(xiàn)表面形貌成像。同—尺度下的力學(xué)測試和形貌掃描保證了納米力學(xué)表征結(jié)果的性 和可靠性。原位 SPM 成像可以實(shí)現(xiàn)納米尺度的定位， 確保力學(xué)測試在材料上的位置進(jìn)行。

磨損測試

定量納米尺度性能

利用TS Select 的SPM 原位掃描成像技術(shù) ， 可以測噩磨損量和磨損率隨接觸力＼滑動速度和磨損次數(shù)的變化。得 益千寬泛的空間測噩范圍， TS Select可以輕松實(shí)現(xiàn)局部微觀結(jié)構(gòu)、界面和薄膜的摩擦性能測試。

TS Select 控制軟件

簡化的系統(tǒng)操作和數(shù)據(jù)分析

布魯克 丁S Select的 控制和分析軟件包針對測試過程進(jìn)行了精簡優(yōu)化。優(yōu)化內(nèi)容涵蓋了樣品加載、測試設(shè)置、測試執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析。TS Select 控制軟件集成了自動化樣品測試和儀器校準(zhǔn)程序， 來實(shí)現(xiàn)簡單、高效和無誤的表征。

Hysitron TS Select Options

動態(tài)納米壓痕納米劃痕

動態(tài)納米壓痕通過在準(zhǔn)靜態(tài)力上登加—個(gè)小的振蕩力來實(shí)現(xiàn)材料表面硬度和模量隨深度變化的連續(xù)測星。 基于—個(gè)針對動態(tài)測試優(yōu)化的電容傳感器和一個(gè)集成的鎖相放大器， 動態(tài)納米壓痕非常適用千表征力學(xué)性能與測試深度、 頻率和時(shí)間的關(guān)系。

納米劃痕利用— 個(gè)靜電驅(qū)動的二維傳感器來控制法向力， 同時(shí)測星探針移動所需的橫向力。 由于其橫向位移不依賴千電動樣品臺， 納米劃痕提供了市場上靈敏和可靠的納米尺度摩擦和薄膜粘附力的測噩手段。

OnlyTS 77 Select

?提供核心測試技術(shù)的基本工具包：包括納米壓痕、 動態(tài)納米壓痕、 納米劃痕、 納米磨損和原位SPM成像

?通過靜電驅(qū)動的電容式位移傳感器實(shí)現(xiàn)高靈敏度和低熱漂移

?具有快速力學(xué)性能成像和大數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析的快速壓痕功能

?通過直觀易用的軟件設(shè)計(jì)，使入門級操作人員都能夠進(jìn)行可靠的測呈

?通過預(yù)先編入基于ISO 14577和ASTM E2546標(biāo)準(zhǔn)的測試函數(shù)，使測試設(shè)備簡單易用

?自動化的系統(tǒng)校準(zhǔn)和多樣品程序化測試可以大大縮減測試周期