ContourGT-K 3D光學顯微鏡（三維光學輪廓儀）

在一臺臺式儀器中結合了分析性能，便利性和可承受性

ContourGT-K 3D光學顯微鏡是表面輪廓儀功能和價值的標準。該系統具有各種2D / 3D測量，高分辨率成像和用戶友好的界面，該系統以緊湊的封裝和緊湊的占地面積提供了的計量功能。

ContourGT-K是滿足基本計量和成像需求的實驗室的理想測量系統。

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ContourGT K工具圖片v2

輪廓GT-K

質量與可靠性

ContourGT-K是非接觸表面表征和成像領域超過三十年專有光學和。 ContourGT系列基于Wyko®技術構建，具有*的算法和結構設計，使布魯克成為可靠測量的。發貨前，每個單元都經過我們美國工廠的嚴格認證。除其他規格外，還對它們進行了測試，使其均方根（RMS）重現性<或更高，步長1 sigma重現性<％。

ContourGT K USB插入2

ContourGT K分析齒輪齒

靈活的登臺和固定，以適合您的應用

ContourGT-K設計為您提供了可根據需要靈活配置顯微鏡的靈活性。無論是配置為基本配置（手動平臺和單個物鏡）還是更自動化的設置（機動平臺和5位機動物鏡轉塔），該系統均可提供可重復的結果。物鏡和變焦鏡頭的各種組合使您可以選擇并優先考慮對手頭研究更重要的內容，包括測量視野，橫向分辨率或表面不透明度。

高度直觀的用戶界面，具有分析功能

布魯克屢獲殊榮的Vision64®操作和分析軟件提供了功能，簡化的圖形用戶界面，將智能體系結構與直觀的可視工作流以及的用戶定義的自動化功能相結合，可進行快速，的數據收集和分析。

提供的表面測量與成像技術

性能、操作簡便的桌上型三維光學顯微鏡

ContourGT-K三維光學顯微鏡*了表面測量和分析的新標準，這套測量系統擁有工業的測量性能和靈活性，采用白光干涉技術，超大視野內埃級至毫米級的垂直計量范圍，具有的垂直分辨率和測量重復性。

憑借其的直觀用戶界面和功能全的自動化檢測、分析功能，方便用戶快速高效的獲得材料粗糙度、二維/三維表面分析以及高分辨成像，應用于LED、太陽能電池、薄膜材料、MEMS、機械零部件、摩擦磨損等各個領域，滿足各種表面測量的實際需求。

特征：

◆ 的垂直分辨率，大的測量性能；

l ~200倍的放大倍率；

l 任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程；

l 高分辨率攝像頭；

◆ 測量硬件的設計，增強生產環境中的可靠性和重復性；

l 較高的震動的容忍度和GR&R測量的能力

l 的自動校準能力；

◆ 多核處理器下運行的Vision64™ 軟件，大大提高三維表面測量和分析速度

l 數據處理速度提高幾十倍；

l 分析速度提高十倍；

l 無以倫比的大量數據無縫拼接能力；

◆ 高度直觀的用戶界面，擁有的實用性，操作簡便和分析功能*

l 優化的用戶界面大大簡化測量和數據分析過程；

l 的可視化操作工具；

l 可自行設置數據輸出的界面；

部分選擇項：

可編程控制150mm(6in)自動樣品臺

可選操縱手柄

可選高速聚焦；

可選縫合功能；

可選XY自動移動功能

參數：

XY樣品臺： 150mm（6in）手動樣品，樣品臺±6°傾斜調整

Z方向聚焦： 計算機自動控制聚焦

光學組件模塊： 新一代雙LED照明電源；自動視場目鏡轉臺；自動濾波片切換；

物鏡： 可共焦物鏡：，5X，10X，20X，50X；100X；

長焦物鏡：1X，，2X，5X，10X；

物鏡搭臺： 單物鏡適配器或四位置自動塔臺；

處理器： 多核，Windows® ；

系統軟件： Vision64 操作和分析軟件；

可選分析軟件： MATLAB®, SureVision, TCP/IP Control, ThickFilm, Annular, Optical

其他自動化： 標準自動光強設定；標準攝像頭自動聚焦

校準： 手動，使用可追溯標準樣品；

Z方向掃描范圍： nm至10mm

掃描速度： µm/sec

樣品重量： (10lbs)

垂直方向分辨率：

RMS重復性：

反射率： < to

臺階高度測量： 不確定度：%；

重復性 lt;% 1σ