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北京中顯恒業儀器儀表有限公司

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北京中顯恒業儀器儀表有限公司
當前位置:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>中國顯微鏡>>韓領區>> DM4PLeica DM 4 P& MSP9000C專業煤巖反射率分析儀13911847064

Leica DM 4 P& MSP9000C專業煤巖反射率分析儀13911847064

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:DM4P
  • 品牌:
  • 產品類別:元素分析儀器
  • 所在地:北京市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-01-12 19:00:47
  • 瀏覽次數:3
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北京中顯恒業儀器儀表有限公司

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  • 經營模式:代理商
  • 商鋪產品:1843條
  • 所在地區:北京北京市
  • 注冊時間:2023-01-09
  • 最近登錄:2023-01-12
  • 聯系人:霍興 (總經理)
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產品簡介

關鍵詞:煤巖分析儀、煤巖反射率分析、煤巖分析系統、煤巖分析、煤炭分析儀、徠卡煤巖分析儀、蔡司煤巖分析儀、煤質分析儀

詳情介紹


 

Leica DM 4 P& MSP9000C專業煤巖反射率分析儀Leica DM 4 P& MSP9000C專業煤巖反射率分析儀
Leica DM 4 P& MSP9000C專業煤巖反射率分析儀Leica DM 4 P& MSP9000C專業煤巖反射率分析儀

 

1.整個系統的技術條件及功能

煤巖光片制備

煤巖光片的顯微觀察與照相

焦炭光片的顯微觀察與照相

煤巖光片的自動掃描照相功能,照相過程可以實現自動移動樣品和自動調焦,同時可人工干預微調焦距,確保圖像清晰率。速度10-20min/樣,可同時提供鏡質組反射率和煤巖組成活惰比兩項結果。

按照現行GB/T 8899-1998《煤的顯微組分組和礦物測定方法》標準方法進行的煤巖顯微組分的定量統計測試。

基于圖像分析的煤巖顯微組分定量統計方法,具有測試過程追溯功能,便于審核。

鏡質體反射率的光度計測試方法,符合GB/T 6948-2008《煤的鏡質體反射率顯微鏡測定方法》的要求。人工確認測試對象并自動測試鏡質組反射率,測試結果可用于仲裁。

基于圖像分析自動識別鏡質組并測試反射率,無需人工干預,自動形成反射率測試報告。具有測試過程追溯功能。

 

2.顯微鏡:

(1)符合MT/T 1053-2008《測定鏡質體反射率的顯微鏡光度計技術條件》要求。

(2)光學系統:偏光專業反射光路,具有明場(自然光),偏光功能。由明場反光鏡、起偏器和180度旋轉檢偏器實現。配有光濾片。可實現鏡質體隨機反射率、zui大反射率測量和焦炭的觀測。

(3)物鏡:配備10X干物鏡及50X油浸物鏡(物鏡上標有POL XLR,XLR:專門致力于煤反射率分析,其他品牌均無針對性物鏡,要求高精度新標準HCS物鏡,使用高折射率低色散材料。光線透過率高,能夠降低透鏡界面漫反射,同時具有防霉功能

(4)目鏡:配三目鏡筒,一筒用于檢測。雙目用于觀察,目鏡10x/22,帶視度補償功能,配置預裝10/100測微尺。雙目鏡頭可調眼距,能保證目鏡齊焦

(5)光源:采用特制照明系統并使用長壽命高亮度鹵素燈12V/100W及反光碗的柯勒照明方式,帶調光裝置和顯示。色還原好,提高分辨率,光效高而均勻,有效使用壽命在2000小時。

(6)濾色片及測量附件

安裝濾色片系統,配置日光矯正、隔熱濾片目鏡測微尺10/100、測微臺尺。

(7)載物臺360°旋轉,旋轉精度±1°

 

3.自動移動載物臺要求:

(1)XYZ三軸電動載物臺通過軟件控制實現XY自動移動和Z軸自動調焦。

(2)通過軟件控制和顯微攝像頭形成聯動,自動移動樣品的同時實現自動采集圖像,并可通過人工干預焦距調節確保圖像清晰率。

(3)自動移動和采集圖像的過程能夠記錄每幅圖像的坐標,圖像采集完成后能夠實現圖像回溯功能,重新定位已采集的圖像。

(4)XY軸zui小步進精度0.05um,Z軸精度0.1um。XY軸復位重復精度<1um。

 

4.顯微數碼攝像頭技術條件

(1)通過軟件控制和自動載物臺形成聯動,自動移動樣品的同時實現自動采集圖像。

(2)顯微高精密檢測攝像頭:檢測精度要求達到65536級(16bit)同時可用于輸出彩色圖像,達到256×256×256級色階(24bit)。

(3) 攝像頭應具有足夠的穩定工作時間,其線性范圍應覆蓋褐煤-無煙煤的鏡質組反射率范圍。

(4)芯片為CCD,尺寸為 2/3 Inch CCD(Color)。

(5) 光學接口:C-mount(Recommended: 1× )。

 

5.圖像自動采集系統技術條件

(1)聯動控制載物臺自動移動和顯微攝像頭自動采集圖像。

(2)支持多種樣品掃描方式、支持自動聚焦方式、自動保存原始圖像數據。

(3)掃描區域大小、數量可選;聚焦模式分為自動聚焦/手動聚焦,支持暫停/等待拍照;掃描間距支持圖像之間重疊、緊鄰、間隔掃描圖像;掃描回溯支持重新定位并重新掃描

(4)圖像追溯處理要求可根據圖像特征,在人工選取煤巖組分時具有自動識取成片特征相近區域功能,以減少點擊量并具有可將已選組分標注合成單張圖像以及合成保存功能;當修正完畢后,可自動統計全部測區的煤巖組分含量。

 

6.煤巖自動測試系統技術條件

(1)測試過程可追溯:基于圖像分析法測試煤的顯微組分含量和鏡質組反射率。在計算機中保留全部圖像和測試過程、測試結果數據,可將測試結果標注于相應圖像之上,可反復調閱已測試樣品的測試過程和測試結果,便于審核。

(2)反射率測試具有半自動人工識別鏡質組和全自動識別鏡質組并測試反射率兩種功能模式。半自動人工識別鏡質組模式嚴格按照現行GB/T 6948-2008《煤的鏡質體反射率顯微鏡測定方法》進行測試。全自動識別鏡質組模式依預測模型自動判斷鏡質體并測試反射率模式無需人工干預,自動形成反射率測試報告。

(3)顯微組分含量測試可按照現行GB/T 8899-2013《煤的顯微組分組和礦物測定方法》進行半自動(人工)測試,也可由計算機自動掃描分析得出煤巖組成(活惰比)數據。自動測試可將測試結果標注于相應圖像之上,便于審核。

(4)自動測試焦炭孔隙參數:通過掃描焦炭切塊樣品,可提供平均孔隙率(%)、平均孔徑(um)、平均壁厚(um)、孔徑區間分布及壁厚區間分布含量等數據及相應圖表

(5)半自動(人工)檢測焦炭光學組織功能:可按照YB/T 077-1995焦炭光學組織的測定方法進行焦炭光學組織測量。

(6)其它組分測量功能:可自定義測量其它需要統計含量的組成。

 

7.鏡質組反射率人工檢測技術條件

滿足MT/T 1053-2008《測定鏡質體反射率的顯微鏡光度計技術條件》要求。

符合GB/T 6948-2008《煤的鏡質體反射率顯微鏡測定方法》的要求。

檢測光譜主峰為546nm,半峰寬8 nm。

檢測精度:可分辨0.0001反射率變化。

檢測區直徑約2um。

線性:任一標樣理論與實測值不超過±0.02%。

穩定性:連續檢測任一標樣30min,波動的zui大值與zui小值之差不超過理論值2%。

對于所測量的煤的鏡質體反射率電信號進行統計分析處理,自動得出相應的直方圖。

測試結果可用于仲裁。

8.標準樣品技術條件

配備藍寶石、釔鋁石榴石、釓鎵石榴石三個一級標樣,符合MT/T 1053-2008《測定鏡質體反射率的顯微鏡光度計技術條件》要求。

 

9.煤巖磨片成套設備,包括雙盤研磨、雙盤拋光、熱成型工具及浸油等耗材。

 

10.售后服務

軟件終生免費升級,所有煤巖反射率及組份測試新標準發布,都能夠及時更新軟件,滿足新發布的測試標準要求。

 

11.供貨清單總表

 

序號

名   稱

規格型號

產地

數量

備注

1

顯微鏡

Leica DM 4 P研究級

德國

1臺

 

2

自動移動物臺

MSP9000C

德國

1臺

 

3

顯微攝像頭

MSP 9000C

德國

1臺

 

4

圖像自動采集系統

MSP 9000C

德國

1套

 

5

煤巖自動測試系統

MSP 9000C

德國

1套

 

6

計算機、顯示器

聯想THINKCENTRE M8400t商務機CPU:I7-3.4G;內存:4G;硬盤:1T;顯示器:21.5英寸。

中國

1臺

 

7

打印機

HP  1108激光

中國

1臺

 

8

煤巖制樣設備

鑲嵌機

磨片機

雙盤拋光機

超聲波清洗機

上海

1套

 

9

標準樣品

一級標樣(藍寶石、釔鋁石榴石、釓鎵石榴石)

西安

1套

 

10

穩壓器

 

德力西

1臺

 

11

耗材

浸油、砂紙等

 

1套

 

 

 

 

                                              以下為各部分具體詳細清單:

 

顯微鏡(Leica DM 4 P)配置與配件表

 

序號

產品部件名稱

規格型號

產地

數量

備    注

1

偏光顯微鏡主體

11888512

德國LEICA

1臺

德國原裝LEICA(徠卡)生產; Basic stand DM4 P  TL/RL   LED, DM4500主機座,包含透射光路、調焦機構, 電源部分和液晶顯示以及色溫恒定CCIC控制系統

2

底板有濾色片盒

11888100

德國LEICA

1個

Ground plate with filter magazine

3

6孔可對中物鏡轉換頭和反射光路

11888100

 

德國LEICA

1套

 

4

電動控制孔徑光闌和視場光闌

11888508

德國LEICA

1套

 

5

DIC插槽

11888187

德國LEICA

1個

Aufnahme für DIC Prismen/Kompensator

6

三目筒

11551076

德國LEICA

1個

Basic Docu Tube POL  BDTP

7

出口適配器

11505161

德國LEICA

1個

Tube adapter incl. docu. port

8

360°旋轉載物臺

11551077

德國LEICA

1個

DM4500 POL stage with 45° clickstops

9

燈箱(用于反射光路)

11504197

德國LEICA

1個

Lamp housing LED

10

Smith反射器

11555081

德國LEICA

1個

POL cube to Smith, fixed

11

目鏡(有測微尺)

11557805

德國LEICA

1個

Eyepiece HC PLAN s 10x/22 Br.M +reticule

12

目鏡

11507807

德國LEICA

1個

Eyepiece HC PLAN s 10x/22 Br. M

13

反射光起偏器

11555005

德國LEICA

1個

Polarizer L ICR/P w. whole-wave plate

14

360°檢偏器

11555080

德國LEICA

1個

Analyzer 360°

15

入補償片

11553388

德國LEICA

1個

Whole-wave plate 

16

10X物鏡

11556070

德國LEICA

1個

Obj. HC PL EPI 10x/0.25 Pol

17

50X物鏡(油鏡)

11556023

德國LEICA

1個

Obj. HC PL EPI  50x/0.85 Oil POL 

18

反射光濾色片插槽

11505154

德國LEICA

1個

Filter slider for IL axis

19

日光型濾片(反射光用)

11513906

德國LEICA

1個

Daylight filter DLF

20

測微臺尺

11513106

德國LEICA

1個

Stage micrometer

21

防塵罩

11505168

德國LEICA

1個

Dust cover for DM 4 P

 

22

壓平器

 

上海

1個

 

23

內六角隨機工具

 

德國LEICA

1套

 

 

 

制樣設備部分

 

1

雙盤預磨機

YM-2A

上海金相

1臺

雙盤

2

雙盤拋光機

PG-2B

上海金相

1臺

雙盤,可單盤控制

3

鑲嵌機

XQ-1型

上海金相

1臺

直徑30mm

4

可調電阻爐

 

上海

1臺

1000W

5

小型刀片式粉碎機

XFB-200

上海

1臺

 

6

篩子

1mm

 

1套

1MM,0.1MM,0.06MM方孔標準篩,頂蓋、底座各1個

7

電吹風

 

上海

1個

 

 

注:如需塊焦切割機可選配。

耗材及輔助件類清單

 

序號

產品名稱

規格型號

數量

備    注

1

煤巖拋光劑

KD-01P

5Kg

 

2

煤巖拋光布

KD-02P

3張

 

3

粗磨耐水砂紙

KD-01M

100張

 

4

細磨耐水砂紙

KD-02M

100張

 

5

煤巖鑲嵌膠粉

KD-01Z

1Kg

 

6

煤巖浸油

KD-01C

2瓶

23℃ Ne=1.518

7

擦鏡紙

KD-02C

10本

 

8

水平膠泥

KD-03C

1塊

 

9

載玻片

KD-04C

1盒

 

10

磨口滴瓶帶滴管

25ml 

3個

 

11

吸耳球

 

1個

 

12

塑料燒杯

500ML

2個

 

13

裁紙刀

 

1把

 

14

坩堝

 

15個

 

15

小鑰勺

 

5個

不銹鋼

16

線手套

 

2副

 

17

攪拌棒

 

5根

 

18

標簽液

 

2瓶

書寫樣品標號

19

預磨機膠圈

 

2個

 

20

插排

 

2個

六孔以上

21

鼠標墊

 

1個

 

22

產品說明書

 

1份

電子版

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