1. XOS 公司介紹：

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學(xué)系統(tǒng)公司) 總部位于美國紐約州Albany, 為丹納赫水質(zhì)平臺子公司。

◆ XOS®是一家應(yīng)用材料和元素分析設(shè)備供應(yīng)商，為重視控制材料質(zhì)量與性能的行業(yè)監(jiān)管部門和客戶提供擁有技術(shù)的分析設(shè)備。

◆ XOS公司擁有研發(fā)和設(shè)計(jì)能力，與美國的眾多研究機(jī)構(gòu)有合作關(guān)系，曾經(jīng)參與了許多設(shè)計(jì)，包括美國宇航局的行星元素探測計(jì)劃（XRF方法）等。

◆ XOS擁有X射線光學(xué)技術(shù)，能夠幫助客戶將測量靈敏性，減少測量時間，空間分辨率，縮小設(shè)備尺寸，并且節(jié)約設(shè)備成本。

◆ XOS公司的光學(xué)晶體應(yīng)用于波長色散型XRF、微區(qū)聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器。XOS公司與其他的XRF生產(chǎn)廠商都有合作，提供給它們必需的光學(xué)聚焦晶體。

◆ XOS公司在元素分析有著技術(shù)應(yīng)用，XOS公司與美國NASA下屬的JPL實(shí)驗(yàn)室合作，研發(fā)了一款2020計(jì)劃的XRF元素分析儀

2. 主要技術(shù)參數(shù)和優(yōu)點(diǎn)：

1) 采用DCC®（雙曲面彎晶技術(shù)），取代傳統(tǒng)的濾光片和準(zhǔn)直器，真正實(shí)現(xiàn)單色光激發(fā)樣品；

2) 檢測光斑1mm，適合測試不規(guī)則樣品和細(xì)小樣品；

3) 采用SDD硅漂移探測器，分辨率高，無需液氮冷卻；

4) 滿足美國ASTM F2853標(biāo)準(zhǔn)；

5) 可同時測試涂層與基材中的重金屬含量；

6) 采用基本參數(shù)法，可分析各類未知樣品；等等

美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀

用于玩具和兒童用品

HD Prime用XOS*的光譜技術(shù)，測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學(xué)分析技術(shù)，可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術(shù)可測量目前和將來由CPSIA規(guī)定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能定量分析。測量是非破壞性的，不需要費(fèi)錢耗時的樣品準(zhǔn)備，而且不會損壞被測商品，已備復(fù)查。光譜儀使負(fù)責(zé)產(chǎn)品安全的行業(yè)和政府管理部門能夠快速、方便地檢測產(chǎn)品。

檢測鉛和其它有毒元素

應(yīng)用領(lǐng)域

•玩具和兒童用品中多種有毒元素測量，符合CPSIA規(guī)定的要求

•定性定量分析有毒元素

•使用場合:工廠的生長線上和實(shí)驗(yàn)室、第三方檢測實(shí)驗(yàn)室、零售商、檢測部門

•符合ASTM F2853和F2617標(biāo)準(zhǔn)

性能和特點(diǎn)

•測定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，and CI)

•HD Prime 可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份

•1mm小面積分析，能檢測不規(guī)則形狀

•使用方便，可供工廠、實(shí)驗(yàn)室使用，2小時培訓(xùn)

•不需要樣品準(zhǔn)備：無須剝離和浸煮涂層，從而不破壞產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

•定性檢測模式：提供有毒元素快速檢測

•定量檢測模式：確定涂層和基底材料中元素成份