3112 晶片測試分類機
主要特色：
- 高信賴度之PnP自動化測試分類機
- x4 多盤置入自動測試分類
- (X/Y/Z/θ) 可調式探針座模組
- 測式座產品堆疊檢測
- x12 輸出分類盤可程式設定輸出類別
- 全程即時良率顯示與控制
- 全程探針接觸狀態顯示 (選配)
Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產的PnP 自動化晶片測試分類機，可藉由治具變更處理 各種不同尺寸規格之晶片測試與分類。此設備透 過PnP方式將晶片自晶片盤載入至測試站中，精 確的測試後依據測試結果穩定的放置於分類盤 中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要 求，多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的 損壞。
晶片測試運用此自動化測試分類技術不僅能提升 生產效率、減少人力需求，同時也增加了測試穩 定度及測試良率。此外，其簡潔的機臺設計更可 節省機臺於測試廠之佔地面積，幫助客戶大幅降 低生產成本。
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