HORIBA X射線熒光光譜儀
XGT-1000WR熒光光譜儀主要技術指標：
1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任選：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型）
2、 檢測精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 檢測倉內部尺寸：不超過460×360 mm（高150 mm）
4、X射線照射徑：φ1.2 mm（可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換）
5、 檢測器：高純硅檢測器 XEROPHY
6、 設備重量：約 265 kg（不含桌子、計算機）
7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm
8、 信號處理部：220（W）×500（D）×480（H）mm
9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。
HORIBA在能量色散XRF方面的XGT（X射線導向管聚焦）技術實現了微小面積、高X射線能量聚焦測量，確保了微區測量、快速測量、高精度測量。HORIBA XGT1000WR便是一款經典機型。
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