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Gamry DSSC表征 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2026-03-17 瀏覽次數 4 Gamry DSSC表征（IMPS/ IMVS）是可用于表征染料敏化太陽能技術電池（DSSC）。Gamry系統利用兩個Gamry恒電位儀，充分體現在DSSC研究中。可提取重組和電荷提取參數。一個穩壓器驅動一個LED，另外一個進行太陽能電池表征。兩個恒電位儀之間的數據采集是同步的，可以準確獲得相位信息。對比
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HH系列振動樣品磁強計 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2025-03-30 瀏覽次數 55 作為物質(特別是鐵磁性材料)內稟磁性檢測的通用設備，振動樣品磁強計(VSM)因其投資小、堅固耐用，特別是運轉費用極低等顯著優點而被世界各國廣泛運用于科研、教學和生產檢測等眾多領域，為人類的科技進步作出了巨大貢獻。其工作原理大體如圖所示。對比
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集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2025-02-09 瀏覽次數 29 簡要描述：集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統三到六個端口傳送腔室可用于集成ICP等離子刻蝕機、RIE刻蝕機、原子層沉積系統、PECVD和ICPECVD沉積設備，以滿足研發的要求。樣品可以通過預真空室和/或真空片盒站加載。對比
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光學輪廓儀/白光干涉儀/MicroXAM-800 Optical Profiler 參考價 ￥面議
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品牌 型號 MicroXAM-800 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 15 光學輪廓儀/白光干涉儀/MicroXAM-800OpticalProfilerMicroXAM-800是一款基于白光干涉儀的光學輪廓儀，采用相位掃描干涉技術（PSI）對納米級特征進行測量，以及采用垂直掃描干涉技術（VSI）對亞微米至毫米級特征進行測量對比
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Nano Indenter® G200納米級機械測試儀器 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Nano Indenter® G200 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 23 NanoIndenter®G200系統專為各種材料的表征和開發過程中進行納米級測量而設計對比
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光學輪廓儀/3D顯微鏡 Zeta-300 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Zeta-300 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 17 光學輪廓儀/白光干涉儀/Zeta-300OpticalProfilerZeta-300支持3D量測和成像的功能，并提供整合隔離工作臺和靈活的配置，可用于處理更大的樣品對比
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T150 UTM拉伸測量儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 T150 UTM 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 19 產品詳細主要應用提供選項相關產品產品描述T150UTM具有一個電磁傳感器，可用作稱重傳感器，能在很大的應變范圍內提供高靈敏度測量對比
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NanoFlip納米壓痕儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 NanoFlip 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 15 NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學測試進行高精確度的測量對比
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白光共聚焦輪廓儀MICROMESURE 2 參考價 ￥面議
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品牌 型號 MICROMESURE 2 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 17 白光共聚焦輪廓儀MICROMESURE2產品主要特點:NoncontactdimensionalmeasurementNanometricandMicrometricresolutionsWhitelightsensor(nospeckle對比
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iNano®納米壓痕儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 iNano 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 14 iNano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料對比
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光學輪廓儀Profilm3D-200 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Profilm3D-200 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 13 Profilm3D-200型光學輪廓儀Profilm3D-200光學輪廓儀的測量技術包含白光干涉(WSI)及相移干涉(PSI)；Profilm3D-200都已標配200mm自動化X/Y平臺；Profilm3D-200標配10倍物鏡就可以提供2mmX1.7mm的視場大小，配合數字變焦功能有助于緩解不同應用時切換多個物鏡的需要，進一步減少總體成本對比
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iMicro納米壓痕儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 iMicro 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 18 iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料對比
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光學輪廓儀Profilm3D 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Profilm3D 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 13 Profilm3D型光學輪廓儀Profilm3D都已標配100mm自動化X/Y平臺；Profilm3D光學輪廓儀的測量技術包含白光干涉(WSI)及相移干涉(PSI)；Profilm3D的直觀軟件包括表面粗糙度，形狀和臺階高度的測量對比
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光學輪廓儀/3D顯微鏡 Zeta-20 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Zeta-20 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-08-18 瀏覽次數 14 光學輪廓儀/白光干涉儀/Zeta-20OpticalProfilerZeta-20是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能對比
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PerkinElmer Optima 2100DV/全譜直讀等離子體發射光譜儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-07-31 瀏覽次數 14 ICP-OES可以分析元素周期表中金屬元素，檢出限在1ppb以下。同時可以分析非金屬元素，例如As、Se、P、S、Si、Te等，檢出限低于10ppb，如果配合使用氫化物發生器，這些非金屬的檢出限可以穩定提升對比
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Perkin Elmer PinAAcle 100/200/300/400/500/600/700/800原子吸收光譜儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-07-31 瀏覽次數 15 Perkin Elmer PinAAcle有著耐用性，長使用壽命，低維護成本;將為您的實驗室帶來穩定的生產對比
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電感耦合等離子質譜儀PE optima 330 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-07-31 瀏覽次數 18 由等離子體發生器，霧化室，炬管，四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管(稱為離子探測器或收集器)組成。其工作原理是:霧化器將溶液樣品送入等離子體光源，在高溫下汽化,解離出離子化氣體,通過銅或鎳取樣錐收集的離子,在低真空約133.322帕壓力下形成分子束,再通過1~2毫米直徑的截取板進入四極質譜分析器，經濾質器質量分離后，到達離子探測器，根據探測器的計數與濃度的比例關系,可測出元素的含量或同位素比值對比
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珀金埃爾 默Perkin Elmer Elan 6000/9000/DRC-II/ DRC-E電感耦合等離子體質譜儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-07-31 瀏覽次數 16 珀金埃爾默Perkin Elmer Elan 6000/9000/DRC-II/DRC-E電感耦合等離子體質譜儀對比
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光學輪廓儀Zeta-20 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-07-02 瀏覽次數 29 Zeta-20是采用ZDot™技術和Multi-Mode光學系統的非接觸式表面輪廓測試系統。對比
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白光干涉儀Profilm3D 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-07-02 瀏覽次數 51 結合垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術的經濟型非接觸式光學輪廓儀對比
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光學輪廓儀Zeta-300 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-07-02 瀏覽次數 30 Zeta-300是采用ZDot™技術和Multi-Mode光學系統的落地式非接觸式表面輪廓測試系統。對比
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小型真空探針臺高溫熱臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 10 簡要描述：小型真空探針臺高溫熱臺KT-0904T-R主要用于為被測芯片提供一個高溫的變溫測量環境，以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。對比
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高溫熱臺小型真空探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 16 簡要描述：高溫熱臺小型真空探針臺KT-0904T-R在高溫真空環境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運特性、高頻特性測試等對比
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精密氣震平臺配真空高低溫探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 13 簡要描述：精密氣震平臺配真空高低溫探針臺，不銹鋼腔體，-196℃至350℃溫控，探針尖10μm，光學隔振平臺由鋼質蜂巢內核、頂板及底板組成，在降低重量的前提下提供了足夠的硬度。光學隔振平臺頂板為高導磁性不銹鋼材料，底板為碳鋼板，四周側板內層為碳鋼板外層為黑色鋁塑板。對比
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桌式氣浮隔振平臺配微型探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 13 簡要描述：桌式氣浮隔振平臺配微型探針臺KT-Z4019MRL4T，300X300X170（mm） 氣浮隔振+阻尼隔振+橡膠減震底腳，-196℃至350℃微型高低溫探針臺，小巧輕便，功能齊全。對比
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氣震臺配便攜式真空探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 10 簡要描述：氣震臺配便攜式真空探針臺，氣震臺充氣后以充氣和放氣來調整水平，平板大小探針臺，設計精巧，功能齊全，溫控-196℃至350℃對比
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超小版探針臺外配減震 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 13 簡要描述：超小版探針臺外配減震，內腔尺寸137X57X21mm，溫控范圍-196℃-350℃，可透光進行透射光譜測試對比
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中型高低溫探針臺外配減震臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 15 簡要描述：中型高低溫探針臺外配減震臺，整體平板大小，體型小功能齊全，溫控-196到350℃對比
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小型真空探針臺 太陽能電池測試夾具 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 18 簡要描述：小型真空探針臺 太陽能電池測試夾具，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 16 簡要描述：常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試，從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節，負責晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號，實現更加精確的數據測試測量。對比
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大氣探針臺 電信號測試 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 15 簡要描述：大氣探針臺 電信號測試是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試，從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節，負責晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號，實現更加精確的數據測試測量。對比
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常溫探針臺 電信號測試 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 12 簡要描述：常溫探針臺 電信號測試 是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備，通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試，從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節，負責晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號，實現更加精確的數據測試測量。對比
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科研小型氣敏測試真空探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 14 簡要描述：科研小型氣敏測試真空探針臺，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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制備LK-99 可選用 微型探針太臺測試材料 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 9 簡要描述：制備LK-99 可選用 微型探針太臺測試材料，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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超導體材料lk99 可用真空探針臺測試材料 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 15 簡要描述：超導體材料lk99 可用真空探針臺測試材料，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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超導體材料研究 真空高低溫液氮探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 14 簡要描述：超導體材料研究 真空高低溫液氮探針臺，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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高低溫微型探針臺電信號測試 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 13 簡要描述：高低溫微型探針臺電信號測試，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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氣敏測試真空腔體微型探針臺臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 12 簡要描述：氣敏測試真空腔體微型探針臺臺，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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電信號測試真空微型探針臺 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2024-03-31 瀏覽次數 12 簡要描述：電信號測試真空微型探針臺，可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用，充入其它氣體使用，溫度范圍為77.15K至673.15K（-196攝氏度到400攝氏度）對比
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