CW-4 IGBT高壓大電流測試探針臺
特點/應用
滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.
大可用于8英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構，線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動
可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用
CW-4 IGBT高壓大電流測試探針臺
臺體規格：
型號 | CW-4/CW-6/CW-8 |
尺寸 | 4英寸/6英寸/8英寸 |
水平旋轉 | 可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置 |
X-Y移動行程 | 4英寸4英寸/6英寸6英寸 |
X-Y移動精度 | 10微米/1微米 |
樣品臺Z軸調節 | 可升降10mm |
樣品固定 | 真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環 |
針座平臺 | U型針座平臺，多可放置8個探針座 |
大電壓 | 3KV/5KV/10KV |
大電流 | 10A |
背電極測試 | 樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極 |
外形尺寸 | 400mm長400mm寬600mm高/580mm長480mm寬600mm高 |
重量 | 約40千克/60千克 |
光學系統：
顯微鏡類型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡 |
放大倍率 | 16X-200X/20X-4000X |
移動行程 | X-Y軸行程2英寸2英寸，Z軸行程50.8mm |
光源 | 外置LED環形光源/同軸光源 |
CCD | 200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
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