Magellan™ XHR 掃描電鏡直銷：高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到一納米以下，采用了革命性的單色槍技術,它使顯微學家可地把高空間分辨率和超淺入射電子束結合在一起。 Magellan XHR SEM 系列掃描電子顯微鏡（SEM）在不受樣品大小限制的條件下,既擴展了傳統納米尺度掃描電子顯微鏡的成像和分析范圍與能力，同時又具備相當于傳統掃描電子顯微鏡 （SEM） 的速度和易用性。

Magellan™ XHR 掃描電鏡直銷特點

• 亞納米分辨率、1 kV - 30 kV 加速電壓、的穩定性和高達 20 nA 的電子電流。
• 創新的電子光學，包括 FEI 的 單色UniColore （UC） 技術（使能散小于 0.2 eV）。
• 使用單個工具進行材料和缺陷分析，實現高生產量和“快速應答”。
• 表面靈敏高分辨率成像，低至 50 V 的著陸能量。
• 高精密、高穩定樣品臺，可在大分析室內進行 100 x 100 mm 樣品完整表面的 超高分辨成像。
• 樣品尺寸、形狀、成分、制備不會互相制約。
• 包括分析和原型制造的多樣應用性。