產品介紹

CMI950

CMI950X射線熒光鍍層測厚儀，CMI950有著非破壞，CMI950非接觸，CMI950多層合金測量，CMI950高生產力，高再現性等優點，CMI950在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。CMI950用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。主要特點樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素 精度高、穩定性好 *的數據統計、處理功能 測量范圍寬 NIST的標準片

CMI950X射線熒光測厚儀

技術參數

主要規格 規格描述 
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統 
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 
裝備有安全防射線光閘 
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 
準直器程控交換系統 多可同時裝配6種規格的準直器 
多種規格尺寸準直器任選： 
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等 
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 

測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 
在12.7mm聚焦距離時，大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) 
樣品室 CMI900 CMI950 
－樣品室結構 開槽式樣品室 開閉式樣品室 
－大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm 
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm 

詳細資料