產(chǎn)品介紹

CMI920

X-射線熒光鍍層厚度測量儀

CMI920 X-ray Fluorescence Measurement System - Slotted Chamber

(開槽式樣品室，X射線螢光測量系統(tǒng)，型號：CMI920)

CMI920裝備有自動作業(yè)系統(tǒng)，是小型化的實(shí)用測量系統(tǒng)。它標(biāo)準(zhǔn)配置有30倍即時(shí)彩色CCD系統(tǒng)用於樣品圖像觀察；Z軸自動調(diào)焦控制功能；擁有多種形狀和多種規(guī)格的準(zhǔn)直器可供選用。牛津儀器*的SmartLink FP(基本參數(shù)方法)套裝軟體是基於視窗作業(yè)系統(tǒng)的軟體；並且套裝軟體附帶有基本版牛津儀器分析報(bào)告編輯器軟體

CMI920 X-射線熒光鍍層厚度測量儀在技術(shù)上一直以來都于的測厚行業(yè)

 1：CMI 920 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體極薄的浸液鍍層 （銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定多5層、15 種元素。

2 ：度于世界，到0。025mil (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)

3：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ； 如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。 

4 ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI920/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

5 ：可測量任一測量點(diǎn)，小可達(dá)0.025 x 0.051毫米 樣品臺選擇： CMI920系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺 1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

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